IC 測試探針
5.30 mm, IC Test Probes, 0.29 mm Diameter, DE4-029FF35-01A0
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IC 測試探針
DE4-029FF35-01A0
IC 測試探針
料號:DE4-029FF35-01A0
Single Active
長度
5.30mm
針管外徑
0.29mm
DUT 頭型
4 Pts Crown (F)
Load Board 頭型
4 Pts Serrated (P)
彈力
25g ±20%
下載 2D Drawing 下載 3D CAD 詢問報價
描述
DE4-029FF35-01A0 是一款 5.30mm 長的 IC 測試探針，針管外徑 0.29mm，採用 Single Active 結構，適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Single Active
長度5.30 mm
針管外徑0.29 mm
DUT 接觸頭類型4爪皇冠 (F)
LB 接觸頭類型4爪鋸齒 (P)
彈力25 g ±20%
建議行程0.5 mm
全程行程0.8 mm
壽命循環200,000 次
交貨時間21 天
DUT 針頭母材SK4
DUT 針頭鍍層Au
LB 針頭母材SK4
LB 針頭鍍層Au
針管母材Phosphor Bronze
針管鍍層Au
彈簧母材SWP with Au plated
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彈簧力30 g ±20%
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