IC 測試探針
4.75 mm, IC Test Probes, 0.30 mm Diameter, PE1-030DF32-01F0
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IC 測試探針
PE1-030DF32-01F0
IC 測試探針
料號:PE1-030DF32-01F0
Double Active
長度
4.75mm
針管外徑
0.30mm
DUT 頭型
4 Pts Crown (F)
彈力
38g ±20%
下載 2D Drawing 下載 3D CAD 詢問報價
描述
PE1-030DF32-01F0 是一款 4.75mm 長的 IC 測試探針，針管外徑 0.30mm，採用 Double Active 結構，適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Double Active
長度4.75 mm
針管外徑0.30 mm
DUT 接觸頭類型4爪皇冠 (F)
彈力38 g ±20%
建議行程0.7 mm
全程行程0.85 mm
壽命循環200,000 次
交貨時間21 天
DUT 針頭母材Pd Alloy
DUT 針頭鍍層n/a
LB 針頭母材BeCu Alloy
LB 針頭鍍層Au
針管母材Phosphor Bronze
針管鍍層Au
彈簧母材SUS with Au plated
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