IC 測試探針
3.30 mm, IC Test Probes, 0.31 mm Diameter, 1A, PE1-031DF23-03F0
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IC 測試探針
PE1-031DF23-03F0
IC 測試探針
料號:PE1-031DF23-03F0
Double Active
長度
3.30mm
針管外徑
0.31mm
額定電流
1A
DUT 頭型
4 Pts Crown (F)
阻值
100mΩ
彈力
30g ±20%
描述
PE1-031DF23-03F0 是一款 3.30mm 長的 IC 測試探針,針管外徑 0.31mm,額定電流 1A,採用 Double Active 結構,適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Double Active
長度3.30 mm
針管外徑0.31 mm
DUT 接觸頭類型4爪皇冠 (F)
額定電流1A
彈力30 g ±20%
建議行程0.5 mm
全程行程0.7 mm
壽命循環200,000 次
接觸電阻100 mΩ
交貨時間21 天
阻抗41.16 Ω
插入損失-1dB>20GHz
回波損失-20dB@5.94GHz
DUT 針頭母材Pd Alloy
DUT 針頭鍍層n/a
LB 針頭母材BeCu Alloy
LB 針頭鍍層Au
針管母材BeCu Alloy
針管鍍層Au
彈簧母材SWP with Au plated
工作溫度-15~125 °C

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