IC 測試探針
4.60 mm, IC Test Probes, 0.26 mm Diameter, 1A, DE1-026EF31-01A0
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IC 測試探針
DE1-026EF31-01A0
IC 測試探針
料號:DE1-026EF31-01A0
Double Active
長度
4.60mm
針管外徑
0.26mm
額定電流
1A
DUT 頭型
Conical 90°, 120° (E)
Load Board 頭型
4 Pts Crown (F)
阻值
175mΩ
彈力
20g ±20%
描述
DE1-026EF31-01A0 是一款 4.60mm 長的 IC 測試探針,針管外徑 0.26mm,額定電流 1A,採用 Double Active 結構,適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Double Active
長度4.60 mm
針管外徑0.26 mm
DUT 接觸頭類型鈍錐型 (E)
LB 接觸頭類型4爪皇冠 (F)
額定電流1A
彈力20 g ±20%
建議行程0.5 mm
全程行程0.8 mm
壽命循環200,000 次
接觸電阻175 mΩ
交貨時間21 天
阻抗56.4 Ω
插入損失-1dB>20GHz
回波損失-20dB@5.11GHz
DUT 針頭母材SK4
DUT 針頭鍍層Au
LB 針頭母材SK4
LB 針頭鍍層Au
針管母材Phosphor Bronze
針管鍍層Au
彈簧母材SUS with Au plated
工作溫度-55~150 °C

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