1.0C.C.P. Contact Probeshttps://www.ccpcontactprobes.com/ja/ケルビンコンタクトテスト - C.C.P. Contact Probesrich600338<blockquote class="wp-embedded-content" data-secret="bAJufj9IiH"><a href="https://www.ccpcontactprobes.com/ja/test-solutions/intro-kelvin-test/">ケルビンコンタクトテスト</a></blockquote><iframe sandbox="allow-scripts" security="restricted" src="https://www.ccpcontactprobes.com/ja/test-solutions/intro-kelvin-test/embed/#?secret=bAJufj9IiH" width="600" height="338" title="“ケルビンコンタクトテスト” — C.C.P. Contact Probes" data-secret="bAJufj9IiH" frameborder="0" marginwidth="0" marginheight="0" scrolling="no" class="wp-embedded-content"></iframe><script>
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Kelvin Contact Solutions ケルビンコンタクトテスト C.C.P. は 4 種類の先端形状（Blade、Ladder、Half Moon、Crown）を用意。Kelvin Gap は 70～100μm で、QFN、QFP、BGA パッケージの低抵抗精密測定に対応し、プローブ寿命は 200,000 回以上です。 お見積り依頼 カタログ PDF ダウンロード ← 前のページへ戻る 0.07mm 最小プローブピッチ 4種 先端形状 >200K プローブ寿命（回） Kelvin Contact Solutions ケルビンコンタクトテスト ケルビン接続技術は英国の物理学者ケルビン卿に由来し、1Ω 未満の抵抗を測定するために用いられます。C.C.P. は一方のピンで電流を検出し、もう一方のピンで電圧を調整する方式で高精度な 4 端子測定を実現。Blade、Ladder、Half Moon、Crown の 4 種類の先端形状を用意し、Kelvin Gap は 0.07～0.1mm です。 QFN / QFP BGA 低抵抗測定 Tip Types 4 タイプの先端形状 BLADE […]https://www.ccpcontactprobes.com/wp-content/uploads/2026/04/kelvin.png525347