1.0C.C.P. Contact Probeshttps://www.ccpcontactprobes.com/ja/rich600338<blockquote class="wp-embedded-content" data-secret="H0HXxFL1Vj"><a href="https://www.ccpcontactprobes.com/ja/test-solutions/introduction-testing-solution/">IC / ICT 技術紹介</a></blockquote><iframe sandbox="allow-scripts" security="restricted" src="https://www.ccpcontactprobes.com/ja/test-solutions/introduction-testing-solution/embed/#?secret=H0HXxFL1Vj" width="600" height="338" title="“IC / ICT 技術紹介” — C.C.P. Contact Probes" data-secret="H0HXxFL1Vj" frameborder="0" marginwidth="0" marginheight="0" scrolling="no" class="wp-embedded-content"></iframe><script> /*! This file is auto-generated */ !function(d,l){"use strict";l.querySelector&&d.addEventListener&&"undefined"!=typeof URL&&(d.wp=d.wp||{},d.wp.receiveEmbedMessage||(d.wp.receiveEmbedMessage=function(e){var t=e.data;if((t||t.secret||t.message||t.value)&&!/[^a-zA-Z0-9]/.test(t.secret)){for(var s,r,n,a=l.querySelectorAll('iframe[data-secret="'+t.secret+'"]'),o=l.querySelectorAll('blockquote[data-secret="'+t.secret+'"]'),c=new RegExp("^https?:$","i"),i=0;i<o.length;i++)o[i].style.display="none";for(i=0;i<a.length;i++)s=a[i],e.source===s.contentWindow&&(s.removeAttribute("style"),"height"===t.message?(1e3<(r=parseInt(t.value,10))?r=1e3:~~r<200&&(r=200),s.height=r):"link"===t.message&&(r=new URL(s.getAttribute("src")),n=new URL(t.value),c.test(n.protocol))&&n.host===r.host&&l.activeElement===s&&(d.top.location.href=t.value))}},d.addEventListener("message",d.wp.receiveEmbedMessage,!1),l.addEventListener("DOMContentLoaded",function(){for(var e,t,s=l.querySelectorAll("iframe.wp-embedded-content"),r=0;r<s.length;r++)(t=(e=s[r]).getAttribute("data-secret"))||(t=Math.random().toString(36).substring(2,12),e.src+="#?secret="+t,e.setAttribute("data-secret",t)),e.contentWindow.postMessage({message:"ready",secret:t},"*")},!1)))}(window,document); //# sourceURL=https://www.ccpcontactprobes.com/wp-includes/js/wp-embed.min.js </script> ホーム/テストソリューション/技術紹介 IC & ICT Technology Introduction IC / ICT テストプローブ技術紹介 C.C.P. は、極小ピッチ設計、高周波テスト、特許取得の鏡面処理技術を含む総合的なテストプローブソリューションを提供し、Intel、Skyworks、SPIL などの半導体業界のリーディングカンパニーにサービスを提供しています。 テストソリューションへ戻る Pitch Capability · IC Testing 極小ピッチプローブ設計 0.12mm 未満のピッチに対応するスプリングプローブを提供し、あらゆるタイプのテスト治具を研究開発・製造しています。 IC テスト治具ピッチ あらゆるタイプのテスト治具を研究開発・製造しています QFN（クワッド・フラット・ノーリード） リードレスの四角形フラットパッケージ BGA（ボール・グリッド・アレイ） PoP（パッケージ・オン・パッケージ） ウェハレベル・チップスケール・パッケージ その他 High Frequency · RF Testing 最大 77GHz 対応のテスト治具 帯域幅の拡大に伴い、より高い周波数が求められています。5G 時代の到来により、40GHz を超える周波数には強力で信頼性の高いテストソリューションが必要です。 77GHz 最大対応テスト周波数 40GHz+ 5G 用途の対応周波数範囲 0.12mm 最小対応プローブピッチ Patent Technology · Mirror Process プローブ先端の鏡面処理技術 […]