1.0中探针股份有限公司https://www.ccpcontactprobes.com/zh-hans/老化测试方案 - 中探针股份有限公司rich600338<blockquote class="wp-embedded-content" data-secret="vOmUlpyddO"><a href="https://www.ccpcontactprobes.com/zh-hans/test-solutions/intro-burnin-test/">老化测试方案</a></blockquote><iframe sandbox="allow-scripts" security="restricted" src="https://www.ccpcontactprobes.com/zh-hans/test-solutions/intro-burnin-test/embed/#?secret=vOmUlpyddO" width="600" height="338" title="“老化测试方案” — 中探针股份有限公司" data-secret="vOmUlpyddO" frameborder="0" marginwidth="0" marginheight="0" scrolling="no" class="wp-embedded-content"></iframe><script>
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首页 › 产品 › 测试解决方案 › 老化测试方案 Burn-In Test Solutions 老化测试方案 客制化老化测试治具，可承受高达 180°C 的极端温度，采用模组化设计大幅缩短开发时程。CCP 自研 WJ3 特殊镀层材料，可在严苛环境下稳定运作 1,000~3,000 小时。 立即询价 下载型录 PDF ← 返回上一页 ≤180°C 最高工作温度 3000hrs 最长测试时间 0.3mm 最小间距 Burn-In Test Solutions 老化测试方案 Burn-In 测试使 DUT 暴露在严苛环境下：150°C 高温、85% 相对湿度，持续通以 1A 电流长达 1,000 小时。CCP 采用标准件 + 客制化机加件的模组化设计，大幅缩短开发时程并降低模具成本。 BGA / CSP QFN / QFP 客制化 IC […]https://www.ccpcontactprobes.com/wp-content/uploads/2026/04/burnin.png525295