1.0中探针股份有限公司https://www.ccpcontactprobes.com/zh-hans/高频（射频）测试方案 - 中探针股份有限公司rich600338<blockquote class="wp-embedded-content" data-secret="bnNXByC2EH"><a href="https://www.ccpcontactprobes.com/zh-hans/test-solutions/intro-hf-test/">高频（射频）测试方案</a></blockquote><iframe sandbox="allow-scripts" security="restricted" src="https://www.ccpcontactprobes.com/zh-hans/test-solutions/intro-hf-test/embed/#?secret=bnNXByC2EH" width="600" height="338" title="“高频（射频）测试方案” — 中探针股份有限公司" data-secret="bnNXByC2EH" frameborder="0" marginwidth="0" marginheight="0" scrolling="no" class="wp-embedded-content"></iframe><script>
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首页 › 产品 › 测试解决方案 › 高频（射频）测试方案 High Frequency Test Solutions 高频（射频）测试方案 CCP 利用 HFSS 3D 电磁模拟与自有高频实验室双重验证，提供适用于 5G、LTE、Bluetooth 等射频 IC 的同轴探针方案。插入损耗 -1dB @ >50 GHz，阻抗 50Ω。 立即询价 下载型录 PDF ← 返回上一页 >50GHz 插入损耗 -1dB 频率 50Ω 特性阻抗 0.65mm 最小间距 High Frequency Solutions 高频（射频）测试方案 CCP 利用 HFSS 模拟探针在治具中的性能，并在自有高频实验室中以 TDR、网络分析仪及 RF 探针台进行实测验证。可提供同轴探针（Coaxial Probe）设计，适用于 Bluetooth、GPS、LTE、5G 等射频 IC 测试。 […]https://www.ccpcontactprobes.com/wp-content/uploads/2026/04/hf.png525295