1.0中探针股份有限公司https://www.ccpcontactprobes.com/zh-hans/凯尔文接点测试 - 中探针股份有限公司rich600338<blockquote class="wp-embedded-content" data-secret="Tr5A5L9zMB"><a href="https://www.ccpcontactprobes.com/zh-hans/test-solutions/intro-kelvin-test/">凯尔文接点测试</a></blockquote><iframe sandbox="allow-scripts" security="restricted" src="https://www.ccpcontactprobes.com/zh-hans/test-solutions/intro-kelvin-test/embed/#?secret=Tr5A5L9zMB" width="600" height="338" title="“凯尔文接点测试” — 中探针股份有限公司" data-secret="Tr5A5L9zMB" frameborder="0" marginwidth="0" marginheight="0" scrolling="no" class="wp-embedded-content"></iframe><script>
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首页 › 产品 › 测试解决方案 › 凯尔文接点测试 Kelvin Contact Solutions 凯尔文接点测试 CCP 提供四种针尖类型（Blade、Ladder、Half Moon、Crown），Kelvin Gap 70～100μm，适用于 QFN、QFP、BGA 封装的低电阻精密量测，探针寿命 >200,000 次。 立即询价 下载型录 PDF ← 返回上一页 0.07mm 最小探针间距 4种 针尖类型 >200K 探针寿命（次） Kelvin Contact Solutions 凯尔文接点测试 Kelvin 接点技术源自英国物理学家 Lord Kelvin，用于量测低于 1Ω 的电阻。CCP 以一支针感测电流、另一支调整电压的方式实现精准四线量测，提供 Blade、Ladder、Half Moon、Crown 四种针尖类型，间距 0.07～0.1mm Kelvin Gap。 QFN / QFP BGA 低电阻量测 Tip Types […]https://www.ccpcontactprobes.com/wp-content/uploads/2026/04/kelvin.png525347