1.0中探针股份有限公司https://www.ccpcontactprobes.com/zh-hans/rich600338<blockquote class="wp-embedded-content" data-secret="nO88Kn4mo9"><a href="https://www.ccpcontactprobes.com/zh-hans/test-solutions/introduction-testing-solution/">IC & ICT 技术介绍</a></blockquote><iframe sandbox="allow-scripts" security="restricted" src="https://www.ccpcontactprobes.com/zh-hans/test-solutions/introduction-testing-solution/embed/#?secret=nO88Kn4mo9" width="600" height="338" title="“IC & ICT 技术介绍” — 中探针股份有限公司" data-secret="nO88Kn4mo9" frameborder="0" marginwidth="0" marginheight="0" scrolling="no" class="wp-embedded-content"></iframe><script> /*! This file is auto-generated */ !function(d,l){"use strict";l.querySelector&&d.addEventListener&&"undefined"!=typeof URL&&(d.wp=d.wp||{},d.wp.receiveEmbedMessage||(d.wp.receiveEmbedMessage=function(e){var t=e.data;if((t||t.secret||t.message||t.value)&&!/[^a-zA-Z0-9]/.test(t.secret)){for(var s,r,n,a=l.querySelectorAll('iframe[data-secret="'+t.secret+'"]'),o=l.querySelectorAll('blockquote[data-secret="'+t.secret+'"]'),c=new RegExp("^https?:$","i"),i=0;i<o.length;i++)o[i].style.display="none";for(i=0;i<a.length;i++)s=a[i],e.source===s.contentWindow&&(s.removeAttribute("style"),"height"===t.message?(1e3<(r=parseInt(t.value,10))?r=1e3:~~r<200&&(r=200),s.height=r):"link"===t.message&&(r=new URL(s.getAttribute("src")),n=new URL(t.value),c.test(n.protocol))&&n.host===r.host&&l.activeElement===s&&(d.top.location.href=t.value))}},d.addEventListener("message",d.wp.receiveEmbedMessage,!1),l.addEventListener("DOMContentLoaded",function(){for(var e,t,s=l.querySelectorAll("iframe.wp-embedded-content"),r=0;r<s.length;r++)(t=(e=s[r]).getAttribute("data-secret"))||(t=Math.random().toString(36).substring(2,12),e.src+="#?secret="+t,e.setAttribute("data-secret",t)),e.contentWindow.postMessage({message:"ready",secret:t},"*")},!1)))}(window,document); //# sourceURL=https://www.ccpcontactprobes.com/wp-includes/js/wp-embed.min.js </script> 首页/测试解决方案/技术介绍 IC & ICT Technology Introduction IC / ICT 测试探针技术介绍 CCP 提供全方位的测试探针解决方案，涵盖极小间距设计、高频测试、专利镜面处理技术，服务 Intel、Skyworks、SPIL 等半导体产业领导厂商。 返回测试解决方案 Pitch Capability · IC Testing 极小间距探针设计 我们提供间距小于 0.12mm 的弹簧探针，研发并制造生产所有类型的测试治具。 IC测试治具间距 我们研发并制造生产所有类型的测试治具 QFN 方形扁平式封装 方形扁平无引脚封装 BGA 球栅阵列封装 PoP 层叠封装技术 晶圆级芯片封装 其他种类 High Frequency · RF Testing 高达 77GHz 测试治具 带宽增加需要越来越高的频率，随著 5G 时代的到来，超过 40GHz 的频率需要强大而可靠的测试解决方案。 77GHz 最高支持测试频率 40GHz+ 5G 应用覆盖频率范围 0.12mm 最小可支持探针间距 […]https://www.ccpcontactprobes.com/wp-content/uploads/2026/04/Probe-Pitch-Capability.svg