IC 測試探針
4.75 mm, IC Test Probes, 0.31 mm Diameter, 1A, DE1-031BF32-01C0
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IC 測試探針
DE1-031BF32-01C0
IC 測試探針
料號:DE1-031BF32-01C0
Double Active
長度
4.75mm
針管外徑
0.31mm
額定電流
1A
DUT 頭型
4 Pts Crown (F)
Load Board 頭型
Conical 60° (B)
阻值
175mΩ
彈力
25g ±20%
描述
DE1-031BF32-01C0 是一款 4.75mm 長的 IC 測試探針,針管外徑 0.31mm,額定電流 1A,採用 Double Active 結構,適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Double Active
長度4.75 mm
針管外徑0.31 mm
DUT 接觸頭類型4爪皇冠 (F)
額定電流1A
LB 接觸頭類型尖錐型 (B)
接觸電阻175 mΩ
交貨時間21 天
阻抗41.16 Ω
插入損失-1dB@10.54GHz
回波損失-20dB@3.47GHz
DUT 針頭母材SK4
DUT 針頭鍍層Au
LB 針頭母材BeCu Alloy
LB 針頭鍍層Au
針管母材Phosphor Bronze
針管鍍層Au
彈簧母材SWP with Au plated
全程行程0.85 mm
建議行程0.6 mm
彈力25 g ±20%
壽命循環200,000 次
工作溫度-15~125 °C

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