IC 測試探針
3.20 mm, IC Test Probes, 0.35 mm Diameter, DE4-035DF24-03F0
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IC 測試探針
DE4-035DF24-03F0
IC 測試探針
料號:DE4-035DF24-03F0
Single Active
長度
3.20mm
針管外徑
0.35mm
DUT 頭型
4 Pts Crown (F)
彈力
30g ±20%
下載 2D Drawing 下載 3D CAD 詢問報價
描述
DE4-035DF24-03F0 是一款 3.20mm 長的 IC 測試探針，針管外徑 0.35mm，採用 Single Active 結構，適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Single Active
長度3.20 mm
針管外徑0.35 mm
DUT 接觸頭類型4爪皇冠 (F)
彈力30 g ±20%
建議行程0.4 mm
全程行程0.5 mm
壽命循環200,000 次
交貨時間21 天
DUT 針頭母材BeCu Alloy
DUT 針頭鍍層Au
LB 針頭母材BeCu Alloy
LB 針頭鍍層Au
針管母材Phosphor Bronze
針管鍍層Au
彈簧母材SWP with Au plated
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電流1A A
彈簧力14 g ±20%
直徑0.26 mm

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