IC 測試探針
2.20 mm, IC Test Probes, 0.29 mm Diameter, PE4-029DF15-02F0
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IC 測試探針
PE4-029DF15-02F0
IC 測試探針
料號:PE4-029DF15-02F0
Single Active
長度
2.20mm
針管外徑
0.29mm
DUT 頭型
4 Pts Crown (F)
彈力
25g ±20%
描述
PE4-029DF15-02F0 是一款 2.20mm 長的 IC 測試探針,針管外徑 0.29mm,採用 Single Active 結構,適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Single Active
長度2.20 mm
針管外徑0.29 mm
DUT 接觸頭類型4爪皇冠 (F)
彈力25 g ±20%
建議行程0.4 mm
全程行程0.45 mm
壽命循環200,000 次
交貨時間21 天
DUT 針頭母材Pd Alloy
DUT 針頭鍍層n/a
LB 針頭母材BeCu Alloy
LB 針頭鍍層Au
針管母材Phosphor Bronze
針管鍍層Au
彈簧母材SUS with Au plated.SUS with Au plated

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