IC 測試探針
7.80 mm, IC Test Probes, 0.38 mm Diameter, 1A, DE1-038FF50-03F0
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IC 測試探針
DE1-038FF50-03F0
IC 測試探針
料號:DE1-038FF50-03F0
Double Active
長度
7.80mm
針管外徑
0.38mm
額定電流
1A
DUT 頭型
4 Pts Crown (F)
Load Board 頭型
4 Pts Crown (F)
阻值
225mΩ
彈力
22g ±20%
描述
DE1-038FF50-03F0 是一款 7.80mm 長的 IC 測試探針,針管外徑 0.38mm,額定電流 1A,採用 Double Active 結構,適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Double Active
長度7.80 mm
針管外徑0.38 mm
DUT 接觸頭類型4爪皇冠 (F)
LB 接觸頭類型4爪皇冠 (F)
額定電流1A
彈力22 g ±20%
建議行程1 mm
全程行程1.2 mm
壽命循環200,000 次
接觸電阻225 mΩ
交貨時間21 天
阻抗43.29 Ω
插入損失-1dB@12.98GHz
回波損失-20dB@3.20GHz
DUT 針頭母材BeCu Alloy
DUT 針頭鍍層Au
LB 針頭母材BeCu Alloy
LB 針頭鍍層Au
針管母材Phosphor Bronze
針管鍍層Au
彈簧母材SWP with Au plated
工作溫度-15~125 °C

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