プローブが PCB に接触して回路を閉じ、リチウム電池を活性化してテストを行います。特殊設計の接触ヘッドが安定した大電流伝送を確保し、EV のバッテリーモジュール、バッテリーパック、産業用蓄電システムのテストに対応します。
同軸設計により、センスピンと電流テストピンを 1 本のプローブ構造に統合。一体化された電流テストピン設計で電気抵抗を大幅に改善し、大電流を必要とする IC の機能テストやバーンインテスト（Burn-in）に対応します。
Coaxial Design · IC Testing
C.C.P. が IC テスト向けに開発した同軸大電流プローブは、センスピン（Sensor Pin）と電流テストピン（Current Test Pin）を同一のプローブ構造に統合。電流テストピンは一体型設計で、電気抵抗は従来の分離型設計を大きく上回る性能を発揮します。
Probe Structure
上部プランジャー Top Plunger
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センスピン Sensor Pin
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同軸電流ピン Current Pin
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ばね Spring（電流を流さない）
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下部プランジャー Bottom Plunger
同軸一体化 · 電気抵抗を大幅に低減
