High Frequency Test Solutions

高周波(RF)テストソリューション

C.C.P. は HFSS 3D 電磁界シミュレーションと自社高周波ラボによる二重検証で、5G、LTE、Bluetooth などの RF IC に対応する同軸プローブソリューションを提供します。挿入損失 -1dB @ 50 GHz 以上、インピーダンス 50Ω。

>50GHz

挿入損失 -1dB 周波数

50Ω

特性インピーダンス

0.65mm

最小ピッチ

High Frequency Solutions

高周波(RF)テストソリューション

C.C.P. は HFSS で治具内のプローブ性能をシミュレーションし、自社の高周波ラボで TDR、ネットワークアナライザ、RF プローブステーションを用いた実測検証を行っています。Bluetooth、GPS、LTE、5G などの RF IC テストに対応する同軸プローブ(Coaxial Probe)設計を提供できます。

5G / LTE

Bluetooth / GPS

BGA / CSP / QFN

Design Concept

同軸プローブ設計

HFSS SIMULATION

3D 電磁界シミュレーション

HFSS で S パラメータ、インダクタンス、インピーダンスをシミュレーションし、カスタム治具の設計前に最適なプローブを選定。シグナルインテグリティ(SI)を向上させます。

RF LAB VERIFICATION

高周波ラボでの検証

専用の高周波ラボには TDR、ネットワークアナライザ、RF プローブステーションを完備。治具とプローブの実際の性能を測定し、シミュレーション結果を検証します。

Specifications

製品仕様

仕様項目 値
挿入損失 -1dB @ 50 GHz 以上(同軸プローブ)
リターンロス -20dB @ >30 GHz
インピーダンス 50 Ω
ピッチ範囲 0.65 ~ 1.00 mm
対応パッケージ BGA / CSP / QFN / QFP
対応周波数帯 Bluetooth / GPS / LTE / 5G

Applications

主な用途

HIGH FREQUENCY TESTING

RF IC テスト

5G、LTE、Bluetooth、GPS などの無線 IC の高周波テストに対応。C.C.P. の同軸プローブは 50GHz 以上に対応し、正確な信号測定を確保します。

挿入損失 -1dB @ 50 GHz 以上

リターンロス -20dB @ 30 GHz 以上

Bluetooth / GPS / LTE / 5G / Wi-Fi IC に対応

COAXIAL PROBE

高速・高周波 BGA テスト

同軸プローブと GSG 配列設計を組み合わせ、高速 BGA、CSP パッケージの高周波機能テストに対応。50Ω のインピーダンス設計でシグナルインテグリティを確保します。

同軸設計で信号クロストークを低減

HFSS シミュレーション + 実測の二重検証

0.65mm 以上のピッチに対応

ご希望の仕様が見つかりませんか?

C.C.P. はカスタムソリューションを提供しています。特殊なご要望はありますか?当社の専門エンジニアがいつでもお客様の課題に対応します。

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