IC 測試探針
2.85 mm, IC Test Probes, 0.56 mm Diameter, 1A, DE4-056EF20-01F0
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IC 測試探針
DE4-056EF20-01F0
IC 測試探針
料號:DE4-056EF20-01F0
Single Active
長度
2.85mm
針管外徑
0.56mm
額定電流
1A
DUT 頭型
4 Pts Crown (F)
Load Board 頭型
Conical 90°, 120° (E)
阻值
100mΩ
彈力
25g ±20%
描述
DE4-056EF20-01F0 是一款 2.85mm 長的 IC 測試探針,針管外徑 0.56mm,額定電流 1A,採用 Single Active 結構,適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Single Active
長度2.85 mm
針管外徑0.56 mm
DUT 接觸頭類型4爪皇冠 (F)
LB 接觸頭類型鈍錐型 (E)
額定電流1A
彈力25 g ±20%
建議行程0.35 mm
全程行程0.55 mm
壽命循環200,000 次
接觸電阻100 mΩ
交貨時間21 天
阻抗47.23 Ω
插入損失-1dB>20GHz
回波損失-20dB@8.09GHz
DUT 針頭母材BeCu Alloy
DUT 針頭鍍層Au
LB 針頭母材BeCu Alloy
LB 針頭鍍層Au
針管母材Brass Alloy
針管鍍層Au
彈簧母材SWP with Au plated
工作溫度-15~125 °C

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