IC 測試探針
2.57 mm, IC Test Probes, 0.52 mm Diameter, 1A, DE4-052DF17-01F0
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IC 測試探針
DE4-052DF17-01F0
IC 測試探針
料號:DE4-052DF17-01F0
Single Active
長度
2.57mm
針管外徑
0.52mm
額定電流
1A
DUT 頭型
4 Pts Crown (F)
阻值
100mΩ
彈力
35g ±20%
描述
DE4-052DF17-01F0 是一款 2.57mm 長的 IC 測試探針,針管外徑 0.52mm,額定電流 1A,採用 Single Active 結構,適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Single Active
長度2.57 mm
針管外徑0.52 mm
DUT 接觸頭類型4爪皇冠 (F)
額定電流1A
彈力35 g ±20%
建議行程0.4 mm
全程行程0.55 mm
壽命循環200,000 次
接觸電阻100 mΩ
阻抗36.01 Ω
插入損失-1dB@15.16GHz
回波損失-20dB@3.26GHz
DUT 針頭母材BeCu Alloy
DUT 針頭鍍層Au
LB 針頭母材BeCu Alloy
LB 針頭鍍層Au
針管母材Phosphor Bronze
針管鍍層Au
彈簧母材SWP with Au plated
工作溫度-15~125 °C

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