IC 測試探針
5.70 mm, IC Test Probes, 0.28 mm Diameter, 1A, DE1-028EF40-06A0
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IC 測試探針
DE1-028EF40-06A0
IC 測試探針
料號:DE1-028EF40-06A0
Double Active
長度
5.70mm
針管外徑
0.28mm
額定電流
1A
DUT 頭型
4 Pts Crown (F)
Load Board 頭型
Conical 90°, 120° (E)
阻值
350mΩ
彈力
20g ±20%
描述
DE1-028EF40-06A0 是一款 5.70mm 長的 IC 測試探針,針管外徑 0.28mm,額定電流 1A,採用 Double Active 結構,適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Double Active
長度5.70 mm
針管外徑0.28 mm
DUT 接觸頭類型4爪皇冠 (F)
LB 接觸頭類型鈍錐型 (E)
額定電流1A
彈力20 g ±20%
建議行程0.7 mm
全程行程1 mm
壽命循環200,000 次
接觸電阻350 mΩ
交貨時間21 天
阻抗49.6 Ω
插入損失-1dB@17.49GHz
回波損失-20dB@7.92GHz
DUT 針頭母材SK4
DUT 針頭鍍層Au
LB 針頭母材BeCu Alloy
LB 針頭鍍層Au
針管母材Phosphor Bronze
針管鍍層Au
彈簧母材SUS with Au plated
工作溫度-55~150 °C

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