C.C.P. は 4 種類の先端形状（Blade、Ladder、Half Moon、Crown）を用意。Kelvin Gap は 70～100μm で、QFN、QFP、BGA パッケージの低抵抗精密測定に対応し、プローブ寿命は 200,000 回以上です。
最小プローブピッチ
先端形状
プローブ寿命（回）
Kelvin Contact Solutions
ケルビン接続技術は英国の物理学者ケルビン卿に由来し、1Ω 未満の抵抗を測定するために用いられます。C.C.P. は一方のピンで電流を検出し、もう一方のピンで電圧を調整する方式で高精度な 4 端子測定を実現。Blade、Ladder、Half Moon、Crown の 4 種類の先端形状を用意し、Kelvin Gap は 0.07～0.1mm です。
QFN / QFP
BGA
低抵抗測定
Tip Types
BLADE TIP
最も一般的なケルビンテスト用先端で、さまざまな一般接触用途に適しています。
LADDER TIP
ブレード型に似ていますが位置決めがより正確で、正確な接触位置が求められる用途に適しています。
HALF MOON TIP
主に QFN、QFP パッケージに使用され、パッド側面への接触に適しています。
CROWN TIP
各爪がテストエリアに食い込むため、治具製作時に方向を考慮する必要がなく、柔軟に取り付けられます。
Specifications
| 仕様項目 | 値 |
|---|---|
| IC タイプ | QFN / QFP / BGA |
| IC サイズ | 2×2 ~ 20×20 mm² |
| 最小ピッチ | 0.30 mm |
| Kelvin Gap | 70 ~ 100 μm |
| プローブ寿命 | 200,000 回以上 |
Applications
KELVIN CONTACT
低抵抗の精密テスト専用設計。0.07～0.1mm のプローブと多彩な先端形状で、測定精度を確保します。
Kelvin Gap 70～100μm でボール / パッドに正確に接触
QFN、QFP、BGA などのパッケージに対応
4 タイプの先端形状で多様な接触ニーズに対応
LOW RESISTANCE
パワーデバイスや MOSFET などの低抵抗 IC の精密測定に対応。4 端子設計で配線抵抗の誤差を排除し、測定の信頼性を確保します。
4 端子測定で配線抵抗の影響を排除
接触抵抗 <75mΩ（AVG）
定格電流 1A～3A（連続）
C.C.P. はカスタムソリューションを提供しています。特殊なご要望はありますか？当社の専門エンジニアがいつでもお客様の課題に対応します。
