C.C.P.는 Blade, Ladder, Half Moon, Crown 네 가지 팁 유형을 제공합니다. Kelvin Gap 70~100μm로 QFN, QFP, BGA 패키지의 저저항 정밀 측정에 적합하며, 프로브 수명은 200,000회 이상입니다.
최소 프로브 피치
팁 유형
프로브 수명(회)
Kelvin Contact Solutions
켈빈 접점 기술은 영국 물리학자 Lord Kelvin에게서 유래했으며, 1Ω 미만의 저항을 측정하는 데 사용됩니다. C.C.P.는 한 핀으로 전류를 감지하고 다른 핀으로 전압을 조정하는 방식으로 정밀한 4선식 측정을 구현하며, Blade, Ladder, Half Moon, Crown 네 가지 팁 유형과 0.07~0.1mm Kelvin Gap을 제공합니다.
QFN / QFP
BGA
저저항 측정
Tip Types
BLADE TIP
가장 널리 쓰이는 켈빈 테스트 팁으로 일반적인 접촉 용도에 두루 적합합니다.
LADDER TIP
블레이드형과 비슷하지만 위치 정밀도가 더 높아 정확한 접촉 위치가 필요한 용도에 적합합니다.
HALF MOON TIP
주로 QFN, QFP 패키지에 사용되며 패드 측면 접촉에 적합합니다.
CROWN TIP
모든 갈래가 테스트 영역에 파고들 수 있어 지그 제작 시 방향을 고려할 필요가 없고 장착이 더 유연합니다.
Specifications
| 사양 항목 | 값 |
|---|---|
| IC 유형 | QFN / QFP / BGA |
| IC 크기 | 2×2 ~ 20×20 mm² |
| 최소 피치 | 0.30 mm |
| Kelvin Gap | 70 ~ 100 μm |
| 프로브 수명 | 200,000회 이상 |
Applications
KELVIN CONTACT
저저항 정밀 테스트 전용으로 설계된 0.07~0.1mm 프로브를 제공하며, 다양한 팁 유형 중에서 선택해 측정 정확도를 확보할 수 있습니다.
Kelvin Gap 70~100μm로 볼 / 패드에 정밀 접촉
QFN, QFP, BGA 등 패키지 지원
네 가지 팁 유형으로 다양한 접촉 요구 대응
LOW RESISTANCE
파워 소자, MOSFET 등 저저항 IC의 정밀 측정에 적합하며, 4선식 설계로 배선 저항 오차를 없애 측정 신뢰성을 확보합니다.
4선식 측정으로 배선 저항 영향 제거
접촉 저항 <75mΩ (AVG)
정격 전류 1A~3A continuous
