最小探针间距
针尖类型
探针寿命（次）
Kelvin Contact Solutions
Kelvin 接点技术源自英国物理学家 Lord Kelvin，用于量测低于 1Ω 的电阻。CCP 以一支针感测电流、另一支调整电压的方式实现精准四线量测，提供 Blade、Ladder、Half Moon、Crown 四种针尖类型，间距 0.07～0.1mm Kelvin Gap。
QFN / QFP
BGA
低电阻量测
Tip Types
BLADE TIP
最常用的凯尔文测试针尖，适合各种一般接触应用。
LADDER TIP
类似刀片型但定位更精准，适合需要精确接触位置的应用。
HALF MOON TIP
主要应用于 QFN、QFP 封装，适合接触焊垫侧面。
CROWN TIP
各爪均可刺入测试区域，制造治具时无需考虑方向，安装更灵活。
Specifications
| 规格项目 | 数值 |
|---|---|
| IC 类型 | QFN / QFP / BGA |
| IC 尺寸 | 2×2 ~ 20×20 mm² |
| 最小间距 | 0.30 mm |
| Kelvin Gap | 70 ~ 100 μm |
| 探针寿命 | >200,000 次 |
Applications
KELVIN CONTACT
专为低电阻精密测试设计，提供 0.07～0.1mm 探针，多种尖端类型可选，确保量测精准度。
Kelvin Gap 70～100μm，精准接触球 / 焊垫
支持 QFN、QFP、BGA 等封装
四种针尖类型满足不同接触需求
LOW RESISTANCE
适用于功率元件、MOSFET 等低阻值 IC 的精密量测，四线式设计消除接线电阻误差，确保量测可靠性。
四线式量测消除接线电阻影响
接触电阻 <75mΩ（AVG）
电流额定 1A～3A continuous
