IC 測試探針
6.86 mm, IC Test Probes, 0.35 mm Diameter, 1A, DE1-035EG57-01A0
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IC 測試探針
DE1-035EG57-01A0
IC 測試探針
料號:DE1-035EG57-01A0
Double Active
長度
6.86mm
針管外徑
0.35mm
額定電流
1A
DUT 頭型
Conical 90°, 120° (E)
Load Board 頭型
Flat (G)
阻值
50mΩ
彈力
20g ±20%
描述
DE1-035EG57-01A0 是一款 6.86mm 長的 IC 測試探針,針管外徑 0.35mm,額定電流 1A,採用 Double Active 結構,適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Double Active
長度6.86 mm
針管外徑0.35 mm
DUT 接觸頭類型鈍錐型 (E)
LB 接觸頭類型平頭型 (G)
額定電流1A
彈力20 g ±20%
建議行程0.6 mm
全程行程0.8 mm
壽命循環200,000 次
接觸電阻50 mΩ
交貨時間21 天
DUT 針頭母材BeCu
DUT 針頭鍍層Au
LB 針頭母材BeCu
LB 針頭鍍層Au
針管母材PhBz
針管鍍層Au
彈簧母材SUS with Gold Plating

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