Test socket Expanded graphic
测试解决方案
产品介绍
了解中探针在半导体测试领域的专业技术与能力
产品介绍
IC Test Spring Contact Probes
IC测试探针
80种设计
我们的IC测试探针可适用0.12mm的极小间距
介绍
线上商店
In-Circuit Test Probes Demonstration Graphic
ICT测试探针
70种设计
我们ICT测试探针可用于各式PCB测试，除标准化产品以外，我们也提供客制化设计
介绍
线上商店
General Final Test Socket Render Graphic
一般终端测试
中探针研发设计并制造测试治具
介绍
Wafer Level Test Socket Render Graphic
晶圆级封装测试
最小间距0.12mm
我们研发设计独特专属的晶圆级测试方案
介绍
Burn-In Test Socket Render Graphic
老化测试方案
≤ 180°C
客制化的老化测试治具，可承受高达180°C的温度
介绍
High Frequency Test Solutions Render Graphic
高频 (射频) 测试方案
≤ 77 GHz
中探针研发出专利高频测试方案，使用了同轴探针设计及加压导电橡胶治具
介绍
High Current Testing Solution Render Graphic
电池测试探针
30种设计
CCP提供了各种不同的高电流电池测试探针
介绍
Memory Socket and Testing Solution
內存测试
DDR、RAM、闪存
针对RAM、闪存或其他内存芯片的标准化和客製化测试解决方案
介绍
High Voltage IC Test Probes Render Graphic
高电流IC测试
> 5 安培
我们的专利探针设计可以乘载高达5A的极高电流
介绍
FPC Test Socket Render Graphic
极小间距连接器测试
≤ 0.3mm
中探针的陶瓷/铝制治具使用寿命可长达30,000个循环
介绍
Kelvin Contact Test Pins
开尔文接点测试
0.07 ~ 0.1mm
我们为低电阻测试提供了不同的尖端类型
介绍
ATE Pogo Test Socket Render Grphic
自动化设备连结方案
弹簧探针塔&四角PIN针座
具有高频功能的客制化弹簧探针塔
介绍
Panel Test Spring Contact Pin
面板测试方案
最小间距0.45mm
中探针专门提供特殊探针及测试模组。
介绍

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