IC测试探针

18.93 mm, IC Test Probes, 0.75 mm Diameter, 3A, CM-M2-075-20147
产品料号
CM-M2-075-20147
内部结构
single active
长度
25.93 mm
针管外径
0.75 mm
测试探针头型
Cup(A)
额定电流
3
交货时间
28
2D绘图
3D CAD
Single active, 3.3 mm, IC Test Probes, 0.31 mm Diameter
产品料号
DE3-031DF21-01A0
内部结构
single active
长度
3.30 mm
针管外径
0.31 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
Sphere(D)
交货时间
28
2D绘图
3D CAD
Double active, 6.86mm, IC Test Probe, 0.35mm Diameter, 1A, DE1-035EG57-01A0
产品料号
DE1-035EG57-01A0
内部结构
double active
长度
6.86 mm
针管外径
0.35 mm
测试探针头型
Conical 90º,120º(E)
板端测试头型
Flat(G)
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
double active, 5.7 mm, IC Test Probes, 0.31 mm Diameter, 1A RU
产品料号
DE1-031BF40-02C0
内部结构
double active
长度
5.70 mm
针管外径
0.31 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
Conical 60º(B)
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Double active, 4.75 mm, IC Test Probes, 0.31 mm Diameter, 1A RU
产品料号
DE1-031BF32-01C0
内部结构
double active
长度
4.75 mm
针管外径
0.31 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
Conical 60º(B)
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Single active, 3.5 mm, IC Test Probes, 0.35 mm Diameter, 1A
产品料号
PE4-035BT24-01A0
内部结构
single active
长度
3.50 mm
针管外径
0.35 mm
测试探针头型
3 Sided Chiseled(T)
板端测试头型
Conical 60º(B)
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Single Active, 3.3 mm, IC Test Probes, 0.31 mm Diameter, 1A
产品料号
PE4-031DF24-01F0
内部结构
single active
长度
3.30 mm
针管外径
0.31 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Single active, 2.2 mm, IC Test Probes, 0.29 mm Diameter, A
产品料号
PE4-029DF15-02F0
内部结构
single active
长度
2.20 mm
针管外径
0.29 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Double Active, 5.7 mm, IC Test Probes, 0.28 mm Diameter, 1A
产品料号
DE1-028EF40-06A0
内部结构
double active
长度
5.70 mm
针管外径
0.28 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
Conical 90º,120º(E)
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Double active, 5.7 mm, IC Test Probes, 0.28 mm Diameter, 1A
产品料号
DE1-028EF40-05A0
内部结构
double active
长度
5.70 mm
针管外径
0.28 mm
测试探针头型
4 Points Serrated(P)
板端测试头型
Conical 90º,120º(E)
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Double active, 5.7 mm, IC Test Probes, 0.31 mm Diameter, A
产品料号
DE1-031DF40-02A0
内部结构
double active
长度
5.70 mm
针管外径
0.31 mm
测试探针头型
Sphere(D)
板端测试头型
4 Points Serrated(P)
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Double active, 2 mm, IC Test Probes, 0.35 mm Diameter, A
产品料号
DE1-035BE12-01B0
内部结构
double active
长度
2.00 mm
针管外径
0.35 mm
测试探针头型
Conical 60º(B)
板端测试头型
Conical 90º,120º(E)
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Double active, 7.8 mm, IC Test Probes, 0.38 mm Diameter, 1A
产品料号
DE1-038FF50-03F0
内部结构
double active
长度
7.80 mm
针管外径
0.38 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
4 Points Crown(F)
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Single active, 5.3 mm, IC Test Probes, 0.29 mm Diameter, A
产品料号
DE4-029FF35-01A0
内部结构
single active
长度
5.30 mm
针管外径
0.29 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
4 Points Serrated(P)
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Single active, 3.2 mm, IC Test Probes, 0.35 mm Diameter, A
产品料号
DE4-035DF24-03F0
内部结构
single active
长度
3.20 mm
针管外径
0.35 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Single active, 3.35 mm, IC Test Probes, 0.52 mm Diameter, 1A
产品料号
DE4-052EF23-02F0
内部结构
single active
长度
3.35 mm
针管外径
0.52 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
Conical 90º,120º(E)
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Double active, 4.75 mm, IC Test Probes, 0.3 mm Diameter, A
产品料号
PE1-030DF32-01F0
内部结构
double active
长度
4.75 mm
针管外径
0.30 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Double active, 3.3 mm, IC Test Probes, 0.31 mm Diameter, 1A
产品料号
PE1-031DF23-03F0
内部结构
double active
长度
3.30 mm
针管外径
0.31 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Double active, 5.7 mm, IC Test Probes, 0.26 mm Diameter, 1A
产品料号
DE1-026BF40-01A0
内部结构
double active
长度
5.70 mm
针管外径
0.26 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
Conical 60º(B)
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Single active, 3.3 mm, IC Test Probes, 0.51 mm Diameter, 1A
产品料号
DE4-051EF23-01F0
内部结构
single active
长度
3.30 mm
针管外径
0.51 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
Conical 90º,120º(E)
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD