IC 測試探針
2.00 mm, IC Test Probes, 0.35 mm Diameter, DE1-035BE12-01B0
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IC 測試探針
DE1-035BE12-01B0
IC 測試探針
料號:DE1-035BE12-01B0
Double Active
長度
2.00mm
針管外徑
0.35mm
DUT 頭型
Conical 60° (B)
Load Board 頭型
Conical 90°, 120° (E)
彈力
20g ±20%
描述
DE1-035BE12-01B0 是一款 2.00mm 長的 IC 測試探針,針管外徑 0.35mm,採用 Double Active 結構,適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Double Active
長度2.00 mm
針管外徑0.35 mm
DUT 接觸頭類型尖錐型 (B)
LB 接觸頭類型鈍錐型 (E)
彈力20 g ±20%
建議行程0.3 mm
全程行程0.4 mm
壽命循環200,000 次
交貨時間21 天
DUT 針頭母材BeCu Alloy
DUT 針頭鍍層Au
LB 針頭母材BeCu Alloy
LB 針頭鍍層Au
針管母材Phosphor Bronze
針管鍍層Au
彈簧母材SWP with Au plated

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