Test socket Expanded graphic
測試解決方案
產品介绍
了解中探針在半導體測試領域的專業技術與能力
產品介绍
IC Test Spring Contact Probes
IC測試探針
80個設計
我們的IC測試探針可適用0.12mm的極小間距
介绍
線上商店
In-Circuit Test Probes Demonstration Graphic
ICT測試探針
70種設計
我們ICT測試探針可用於各式PCB測試，除了標準化產品以外，我們也提供客製化設計
介绍
線上商店
General Final Test Socket Render Graphic
一般終端測試
中探針研發設計並製造測試治具
介绍
Wafer Level Test Socket Render Graphic
晶圓級封裝測試
最小間距0.12mm
我們研發設計獨特專屬的晶圓級測試方案
介绍
Burn-In Test Socket Render Graphic
老化測試方案
≤ 180°C
客製化的老化測試治具，可承受高達180°C的溫度
介绍
High Frequency Test Solutions Render Graphic
高頻 (射頻) 測試方案
≤ 77 GHz
中探針研發出專利高頻測試方案，使用了同軸探針設計及加壓導電橡膠治具
介绍
High Current Testing Solution Render Graphic
電池測試探針
30種設計
中探針提供了各種不同的大電流電池測試探針
介绍
Memory Socket and Testing Solution
記憶體測試
DDR、RAM、快閃記憶體
針對RAM、閃存或其他內存芯片的標準化和客製化測試解決方案
介绍
High Voltage IC Test Probes Render Graphic
高電流IC測試
> 5 安培
我們的專利探針設計可以乘載高達5A的極高電流
介绍
FPC Test Socket Render Graphic
極小間距連接器測試
≤ 0.3mm
中探針的陶瓷/鋁製治具使用壽命可長達30,000個循環
介绍
Kelvin Contact Test Pins
凱爾文接點測試
0.07 ~ 0.1mm
我們為低電阻測試提供了不同的尖端類型
介绍
ATE Pogo Test Socket Render Grphic
自動化設備連結方案
彈簧探針塔&四角PIN針座
具有高頻功能的客製化彈簧探針塔
介绍
Panel Test Spring Contact Pin
面板測試方案
最小間距0.45mm
中探針專門提供特殊探針及測試模組。
介绍

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